Bir ürünün veya bir işlemin mevcut bir patent talebini ihlal edip etmediğini belirlemek için patent ihlali analizi yapılmaktadır. Patent ihlal analizi yapabilmek için öncelikle iddianın kapsamı belirlenmektedir. İkinci olarak, istemin tüm unsurlarının cihazda veya süreçte mevcut olup olmadığı kontrol edilmektedir.

Patent ihlali iki tip olabilir. Yani, gerçek ihlal veya denklik doktrini. Fiili ihlal kapsamında, suçlanan cihaz veya süreçte iddianın tüm unsurları bulunduğunda, suçlanan cihaz veya işlemin ihlal edici olduğu kabul edilmektedir. Burada, bir patent ihlalinin sonuçlarının net bir resmini elde edebilirsiniz.

Denklik doktrini kapsamında, suçlanan cihaz veya işlem, iddiaları tam anlamıyla ihlal etmez. Bununla birlikte, suçlanan cihaz veya süreç, talep edilen buluşla aynı işlevi yerine getirirken talep edilen buluşla aynı sonucu elde ettiğinde, eşdeğer ihlal meydana gelmektedir. Patent sahibi, bir ürün veya işlemin patentin patent istemlerini ihlal edip etmediğine ilişkin bir ihlal analizi talep edebilmektedir. Ayrıca, ürün sahibi, ürününün veya işleminin bir patenti ihlal edip etmediği konusunda patent ihlali analizi talep edebilmektedir.